MeeX (Mesures en Environnement EXtrême) est une solution logicielle de photogrammétrie industrielle développée en partenariat avec DCNS. Elle vise à apporter des solutions à des problématiques dimensionnelles dans des environnements industriels que l’on peut qualifier d’extrêmes :

• exiguïté
• forte densité d’équipements
• mesures sous-marines
• milieux irradiants : intervention téléopérée (systèmes d’acquisition pilotés à distance)

L’acquisition sur site doit suivre une procédure, simple, mais répondant à certains principes de photogrammétrie (recouvrement, convergence, ..). La robustesse de MeeX nous permet :

• de pouvoir déléguer l’acquisition à un personnel déjà sur place et profane (évitant ainsi tout déplacement), disposant d’un appareil photographique numérique standard
• de ne pas avoir à instrumenter la scène
• dès l’acquisition validée et les données récupérées (serveur FTP), de commencer rapidement le traitement.

MeeX présente des fonctionnalités logicielles innovantes qui permettent tout le process photogrammetrique : du traitement des données photo à la réalisation d’un modèle 3D Tel Que Construit (TQC).

Calcul photogrammétrique :

• Traitement multicapteurs
• Autocalibrage des capteurs
• Calcul puissant par ajustement de faisceaux sur points et sur primitives simples (lignes, cylindres)
• Outils d’aide à la digitalisation (prédictions, lignes épipolaires)
• Visualisation des résultats via une interface graphique 3D indépendante.

Modélisation 3D TQC :

• Implémentation sous plates-formes CAO-DAO : MICROSTATION et PLANTSPACE (Bentley), SOLIDWORKS (Dassault Systems Solidworks)
• Reconstruction assistée d’objets métiers (tuyaux, supportages, équipements)
• Superposition du modèle (théorique ou mesuré) sur les photos
• Création d’un Rapport Numérique de Contrôle (superpositions)

Activité Relevé d’Environnement